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氧化膜测厚仪

涡流法是根据涡流原理测量导电基体上的非导电涂层的厚度,其测量数值受以下一些因素的影响: a基体金属电性质 基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进...

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。 膜厚仪一般是测氧化膜层厚度,常见的铝基,铜基氧化,测量时候用涂层测厚仪选择N(非磁性)探头,这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。 涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理,配F合N探头,或者FN一体探头。...

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。 膜厚仪一般是测氧化膜层厚度,常见的铝基,铜基氧化,测量时候用涂层测厚仪选择N(非磁性)探头,这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。 涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理,配F合N探头,或者FN一体探头。...

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。 膜厚仪一般是测氧化膜层厚度,常见的铝基,铜基氧化,测量时候用涂层测厚仪选择N(非磁性)探头,这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。 涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理,配F合N探头,或者FN一体探头。...

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